1. Home /
  2. Veilingen /
  3. Na veiling BelGaN postfab processing and measurement tools - ex 4047 /
  4. FEI FIB SEM Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope

FEI FIB SEM Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope

Deel deze pagina:
Lotnummer
302
Deel deze pagina:
Lijst
BTW: 21 %

Beschrijving

P/N FP 2067/3

Bezoekdag(en)

Geen bezoekdag(en)

Ophaaldag(en)

Geen ophaaldag(en)